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进口SOP56pin-0.635mm
芯片
适配器老化
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CSOP8-1.27间距合金翻盖探针
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BTB连接器-0.35-40pin微针模组
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DDR1内存颗粒
测试
治具_TSOP66
芯片
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SM2246EN主控
芯片
合金植球台
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LGA52pin存储
芯片
IC nand flash翻盖探针
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eMMC5.0转USB3.0
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座_HS200高速读写适配器Adapter
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BGA63-0.8间距翻盖探针转DIP48
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BGA63pin-0.8mm翻盖探针转DIP48pin
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EMMC100
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座_BGA100烧录座
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eMCP编程器38P魅族LPDDR221翻盖弹片转USB
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BGA63pin翻盖弹片老化
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BGA100pin转DIP48pin翻盖弹片
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BGA100pin-12×18mm翻盖弹片转DIP48
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BGA137-0.5翻盖探针转48
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BGA52pin-0.5mm-9×9mm老化
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BGA24pin-1.0mm-4×6mm-W25Q64
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BGA24pin-1.0mm-6×8mm下压老化
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OTS32pin-1.27mm
芯片
老化
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SOP8-1.27翻盖双层板开尔文
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进口SOP56pin-0.635mm芯片适配器老化测试座
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CSOP8-1.27间距合金翻盖探针测试座
销量:80
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BTB连接器-0.35-40pin微针模组测试座
销量:56
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DDR1内存颗粒测试治具_TSOP66芯片测试架
销量:26
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SM2246EN主控芯片合金植球台
销量:2988
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LGA52pin存储芯片IC nand flash翻盖探针测试座
销量:1258
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eMMC5.0转USB3.0测试座_HS200高速读写适配器Adapter
销量:1432
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BGA63-0.8间距翻盖探针转DIP48测试座
销量:154
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BGA63pin-0.8mm翻盖探针转DIP48pin测试座
销量:1238
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EMMC100测试座_BGA100烧录座
销量:1239
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eMCP编程器38P魅族LPDDR221翻盖弹片转USB测试座
销量:1233
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BGA63pin翻盖弹片老化测试座
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BGA100pin转DIP48pin翻盖弹片测试座
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BGA100pin-12×18mm翻盖弹片转DIP48测试座
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BGA137-0.5翻盖探针转48测试座
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BGA24pin-1.0mm-4×6mm-W25Q64测试座
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BGA24pin-1.0mm-6×8mm下压老化测试座
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OTS32pin-1.27mm芯片老化测试座
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SOP8-1.27翻盖双层板开尔文测试座
销量:270
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