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TO252-5L老化
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BGA841- 0.8mm合金旋钮翻盖
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DDR5-170pin-0.6
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QFN19-0.65mm翻盖合金探针
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EMCP254-H2合金翻盖转USB
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模块144pin-1.0mm合金旋钮翻盖探针
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SOP16-1.27mm下压式老化
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BGA-225pin
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下压SSOP32-0.635mm
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BGA200-0.8间距合金探针翻盖
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BGA483-0.5mm合金翻盖旋钮
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BGA169-0.8功能
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BGA453-0.8 19*19翻盖合金
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CSP110合金翻盖探针老化
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DFN8-1.27-(5×6)翻盖弹片双层板开尔文
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QFP128-0.4间距双扣旋钮式手自一体
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BGA24pin-1.0mm-6×8mm下压老化
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BGA256pin-0.8mm-14x14x1.46mm合金翻盖
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模块60-1.27间距合金探针翻盖
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CSOP8-1.27mm合金翻盖探针测试座
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TO252-5L老化测试座镀金开尔文夹具
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BGA841- 0.8mm合金旋钮翻盖测试座(加散热)
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DDR5-170pin-0.6测试治具
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QFN19-0.65mm翻盖合金探针测试座
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EMCP254-H2合金翻盖转USB测试座
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模块144pin-1.0mm合金旋钮翻盖探针测试座
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SOP16-1.27mm下压式老化测试座
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BGA-225pin测试架
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下压SSOP32-0.635mm测试座
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BGA200-0.8间距合金探针翻盖测试座
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