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TO263-3L-2.54mm间距老化测试座
TO263-3L开尔文测试座
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商品名称:TO263-3L-2.54mm间距老化测试座
商品编号:HY001235
店铺:鸿怡商城
重量:0克
上架时间:2022-08-10 18:16:35

深圳市鸿怡电子提供的TO263-3L-2.54mm间距老化测试座, TO263-3L开尔文测试座

封装类型:TO263-3L

间距:2.54mm

尺寸:10.4mm

老化湿度:85%

老化温度:-55°—+175°

老化时长:3000h


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