封装适配：QFN20，引脚间距0.8mm <b>
工作温度-45℃~ +125℃（最高可支持 150℃） <b>
接触电阻初始≤30mΩ（DC1A），老化后≤50mΩ <b>
绝缘电阻≥100MΩ（相邻引脚间）高绝缘性材料，避免高温下漏电、串扰 <b>
耐压值：AC 500V RMS/1min满足电气安全测试要求 <b>
机械寿命：≥100,000 次插拔（优质款≥15,000 次）探针结构耐用，适合批量老化测试 <b>
单针正向力：20g~30g / 针平衡接触可靠性与芯片受力，避免压伤芯片焊盘 <b>
探针材质：铍铜 / 磷铜镀金（硬金厚度≥0.8μm）高耐磨、抗高温氧化，适配长期老化 <b>
主体材质：PEEK/PEI/Torlon4203 高温工程塑料耐高温、低析出、抗变形，避免高温下污染芯片
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