·不支持退换货服务
QFN32pin芯片老化测试座参数：
本体尺寸：5*5*0.943mm
引脚中心间距：0.5mm
芯片测试座结构:分离式
Socket壳体：合金+PEEK
探针材料：铍铜
探针镀层：镍金
操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比
接触阻抗：50mΩmax
耐压测试：700V AC for 1minute
绝缘阻抗：1000mΩ 500V DC
最大电流：1A
使用温度：-45°C-+125°C
机械寿命：大于15000次(机械测试)
评论晒单