鸿怡电子生产的QFN48-0.5翻盖弹片老化座产品简介
A、产品用途:编程座、烧录座、老化座、测试座，对QFN48的IC芯片进行高低温老化、测试、烧录。
可用于作HOTL\HAST老化试验
B、适用封装:QFN48引脚间距0.5mm
C、测试座:QFN48-0.5
D、特点:采用U型顶针，接触更稳定，寿命长，机械寿命：10W次
E、工作温度：-55℃~155℃ 电流：1A max
F、我司可提供规格书（布板图），PDF档\CAD 欢迎联系客户索要图纸，
规格尺寸
A、型号:QFN-48-0.5
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:48
D、芯片尺寸:7*7mm 对应国外型号：790-42048101T
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