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DFN8-2.0mm合金翻盖探针老化座
深圳市鸿怡电子生产的DFN8-2.0mm合金翻盖探针老化座 测试座 烧录座
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商品名称:DFN8-2.0mm合金翻盖探针老化座
商品编号:HY001467
店铺:鸿怡商城
重量:0克
上架时间:2024-08-14 16:11:50

鸿怡电子测试座socket商城提供QFN8pin-2.0mm尺寸:8mm×8mm探针翻盖老化测试座


产品参数

封装类型:DFN

引脚位数:8pin

中心间距:2.0mm

本体尺寸:8.0mm*8.0mm*

产品特点

1、 采用手动翻盖式结构,操作方便; 

2、上盖的IC压板采用翻盖式结构,下压平稳,压力均匀,不移位; 

3、探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠; 

4、高精度的定位槽,保IC定位以及焊盘精确导通; 

5、采用浮板结构有球无球都能测, 

6、镀金探针材料, 

7、探针可更换,维修方便,成本低。 

8、绝缘材料制作; 

9、最小可做到跳距pitch=0.35mm(引脚中心到中心的距离); 

10、交货快:最快7天内交货。


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