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LCC30-1.27mm间距老化测试座

LCC30镀金老化测试夹具插座

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商品名称：LCC30-1.27mm间距老化测试座

商品编号：HY001246

店铺：鸿怡商城

重量：0克

上架时间：2022-08-15 16:54:32

鸿怡电子生产的LCC30-1.27mm间距老化测试座，LCC封装芯片30pin镀金老化测试夹具插座

测试座型号 : LCC30翻盖式

IC整体宽度 : 19.56 x 11.5mm

IC 间距 : 1.27mm

IC 封装 : LCC30-1.27-19.56x11.5

高低温范围 : -45℃ ~ +175℃

LCC30-1.27mm间距老化测试座.jpg

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