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LCC18-1.27mm间距老化测试座

IC老化座翻盖弹片式，镀金触点耐高温夹具

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商品名称：LCC18-1.27mm间距老化测试座

商品编号：HY001245

店铺：鸿怡商城

重量：0克

上架时间：2022-08-15 16:41:36

鸿怡电子生产的LCC18-1.27mm间距老化测试座，翻盖弹片式IC老化座，引脚镀金触点耐高温芯片测试夹具

测试座型号 : LCC18翻盖式

IC 长度 : 8.89mm

IC 宽度 : 7.3mm

IC 间距 : 1.27mm

IC 封装 : LCC18

LCC18-1.27mm间距老化测试座.jpg

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