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CSP36合金翻盖探针老化测试座
CSP36耐高温老化测试座,
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商品名称:CSP36合金翻盖探针老化测试座
商品编号:HY001240
店铺:鸿怡商城
重量:0克
上架时间:2022-08-11 16:45:21

鸿怡电子生产的测试座型号 :CSP36合金翻盖探针老化测试座

IC本体尺寸 : 根据客户芯片尺寸

IC含脚尺寸 : 根据客户芯片尺寸

IC      间 距 : 0.4mm

IC      封 装 : CSP4

高低温范围 : -45℃ ~ +175℃




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