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DDR内存条测试夹具_一拖八内存颗粒测试座
DDR4内存颗粒测试治具,内存条测试
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商品名称:DDR内存条测试夹具_一拖八内存颗粒测试座
商品编号:HY001211
店铺:鸿怡商城
重量:0克
上架时间:2022-07-28 15:23:50

规格:

1、DDR4 

2、频率F:超过2800Mhz

3、适用于:三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类内存颗粒


材料&特性:

1、Socket材料:优质铝合金、工程玻纤、工程塑料

2、PCBA板材料:FR4、镀金焊盘30mil,导电性、抗氧化性强

3、探针:


材料:

针管:磷铜

针头:铍铜

弹簧:琴钢丝

电气性能:

额定电流:1.5A

接触阻抗:65-182 mohm(最大工作行程状态下)

机械性能:

压力:28g±20%(工作行程内)

测试寿命:10 万次


产品特点及性能参数:

1、产品通用性高,只需换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒(宽度≤13MM 长度≤14MM);

2、产品全新设计,相比以前更薄,预留插槽卡位,不需转接槽可直接插到测试板上进行测试,

3、把频率衰减降到最低,减少误测;

4、有球无球均可测试,颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压;

5、采用手动翻盖滚轴式结构,操作省力方便,相比同类产品减少磨损,达到更高的使用寿命;

6、采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB,金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍,保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ,相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命;

7、采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB,探针板与 PCB 孔定位,保证探针与 PCB 精确定位,如有损坏用户可自行更换维修,简单方便,减少返厂维修,为客户争取宝贵时间;

8、采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短,从而使测试更稳定,频率更高,DDR4 系列频率可达 2000MHZ;

9、探针板采用定位销加螺丝结构,在使用过程中如有探针损坏,客户可自行更换维修,方便


维护,为生产争取宝贵时间;

10、高精度合金 IC 定位框,保证 IC 定位精确,取放 IC 方便,从而提高测试效率;

11、测试寿命长,有效测试 10 万次以上;(视使用环境及相关操作而定)






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